随着万物互联时代的到来,越来越多的电子设备将传感器、电源管理、处理器及存储单元、智能控制电路以及射频通讯模块集成在一起。从物联网、智能终端到工业4.0,射频嵌入式系统正快速扩展到各个应用领域,成为电子设计的主流方向。由于新技术的引入,传统的嵌入式系统设计和测试人员将不得不面对诸如传感器小信号测试、电源完整性、矢量信号分析、射频功放测试以及频谱及EMI诊断分析等诸多全新挑战。工欲善其事,必先利其器。
本次研讨会将带您一起了解射频嵌入式系统测试的相关挑战,并介绍罗德与施瓦茨多域测试方案如何帮助设计和测试人员快速完成对射频嵌入式系统的多域测试和分析。
直播时间:2017/4/27 10:00
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主讲内容:
- 射频嵌入式系统测试的相关挑战
- 罗德与施瓦茨多域测试方案简介
- 设计和测试人员如何快速完成对射频嵌入式系统的多域测试和分析
演讲嘉宾:
福利放送:
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